Nanometrologie

Nanometrologie je vědecká a technická disciplína věnující se měřením různých fyzikálních veličin v nanoměřítku. Její význam roste v souvislosti s rozmachem nanotechnologií, který v posledních letech stále pozorujeme v mnoha oblastech vědy a techniky.

Cílem těchto stránek je představit tento zajímavý a poměrně nový obor a prezentovat aktivity oddělení nanometrologie Českého metrologického institutu, které patří mezi několik málo pracovišť, jež se výzkumem měření v nano- a mikroměřítku v České republice zabývají.

Oddělení nanometrologie vzniklo v roce 2006 na Oblastním inspektorátu Brno Českého metrologického institutu a snaží se věnovat se jak výzkumu, tak poskytování služeb v oboru měření různých fyzikálních veličin ve velmi vysokém rozlišení. Na těchto stránkách naleznete přehled různých měřicích metod využívaných v nanometrologii, popis výzkumných aktivit ČMI v tomto oboru, seznam dostupných služeb, odkazy na volně šiřitelný software i seznam publikací vytvořených v rámci řešení různých výzkumných projektů.

Cílem těchto stránek naopak není uceleně představit celé spektrum aktivit Českého metrologického institutu, z nichž je nanometrologie jen velmi malou oblastí. Pro více informací o dalších zajímavých oborech a službách doporučujeme navštívit oficiální stránky ČMI.


(c) CMI 2012

Novinky

4. 1. 2024 Byla vydána nová verze sw pro analýzu SPM dat Gwyddion 2.65.

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz