Služby

Posláním Českého metrologického institutu není jen provádět výzkum v oblasti metrologie, ale především zprostředkovávat návaznost dalším subjektům, a tím zajišťovat jednotnost a správnost měření v České republice. Metrologický systém, který na oddělení nanometrologie budujeme, proto není jen samoúčelným cvičením v oblasti fundamentální metrologie, ale klade si za cíl zprostředkovávat návaznost dalším subjektům, a to pro jakékoliv fyzikální veličiny detekované s vysokým rozlišením.

Mezi nejjednodušší služby, které můžeme odborné veřejnosti poskytnout, patří kalibrace různých etalonů využívaných v mikroskopických technikách (SPM, SEM, optická mikroskopie) a měření morfologie mikro- a nanostruktur obecně, včetně vyhodnocení různých přímých i statistických parametrů a funkcí, jako jsou například parametry drsnosti.

Vzhledem k tomu, že náš výzkum se neomezuje na délkové veličiny, můžeme nabídnout konzultace a spolupráci také při měření dalších fyzikálních veličin (elektrických, magnetických, teplotních, optických) ve vysokém rozlišení a měření mechanických veličin v nano- i mikroměřítku.


(c) CMI 2012

Novinky

Zveme vás na Seminář o metodách blízkého pole.

Snímek měsíce


Atomární schodky na Si

Kontakt

Oddělení primární nanometrologie a technické délky
Český metrologický institut
Okružní 31, 638 00 Brno
pklapetek(at)cmi.cz